高(gao)低溫沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)和恒溫恒濕箱(xiang)有(you)什麽(me)區(qu)別(bie)?

　　壹(yi)、溫度變(bian)化(hua)的區(qu)別(bie)
 

　　1、高(gao)低溫沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)溫度變(bian)化(hua)是(shi)在五分(fen)鐘(zhong)內(nei)完成(cheng)高(gao)溫到低溫和低溫到高(gao)溫沖擊(ji)的轉(zhuan)換(huan)。是(shi)在瞬(shun)間轉(zhuan)換(huan)溫度，轉(zhuan)換(huan)速(su)率(lv)是(shi)非常(chang)之(zhi)快(kuai)，所(suo)以通(tong)常(chang)叫溫度沖(chong)擊(ji)試(shi)驗機(ji)。而(er)且(qie)溫度沖(chong)擊(ji)是(shi)在非線(xian)性(xing)的情(qing)況(kuang)下完成(cheng)的。溫度沖(chong)擊(ji)原(yuan)理(li)是(shi)需(xu)要高(gao)溫測試(shi)時(shi)高(gao)溫儲藏(zang)箱(xiang)的溫度通(tong)過(guo)控(kong)制自(zi)動(dong)輸送(song)到(dao)測試(shi)箱(xiang)以達(da)到高(gao)溫沖擊(ji)的效(xiao)果(guo)，低溫沖擊(ji)等(deng)同。主(zhu)要試(shi)驗目(mu)的是(shi)溫度沖(chong)擊(ji)。
 

　　2、溫度變(bian)化(hua)是(shi)在規定(ding)的時(shi)間(jian)內(nei)完成(cheng)降溫和升溫的，分(fen)非線(xian)性(xing)和(he)線性。例(li)如(ru)壹臺溫度範(fan)圍-40度到(dao)80度的設(she)備，在線性降溫的情(qing)況(kuang)下從高(gao)溫80度到(dao)-40度以(yi)每分(fen)鐘(zhong)5度的情(qing)況(kuang)降溫需(xu)要24分(fen)鐘(zhong)達(da)到-40度，時(shi)間(jian)就(jiu)比(bi)溫度沖(chong)擊(ji)試(shi)驗機(ji)的時(shi)間(jian)就(jiu)慢，比(bi)壹般(ban)高(gao)低溫試(shi)驗機(ji)就(jiu)快(kuai)很(hen)多(duo)，因(yin)為(wei)標準的恒(heng)溫恒濕箱(xiang)是(shi)非線(xian)性(xing)每(mei)分(fen)鐘(zhong)1度。當(dang)然(ran)每(mei)分(fen)鐘(zhong)10度、20度、30度的此(ci)設備也可以(yi)在很(hen)短的時(shi)間(jian)內(nei)完成(cheng)升溫和降溫。試(shi)驗目(mu)的是(shi)快(kuai)速(su)的升(sheng)降溫，所(suo)以也有(you)叫快速(su)升(sheng)降溫試(shi)驗機(ji)。
 

　　二(er)、箱(xiang)體結構的區(qu)別(bie)
 

　　1、高(gao)低溫沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)是(shi)由高(gao)溫箱(xiang)、低溫箱(xiang)、測試(shi)箱(xiang)組(zu)成(cheng)。總共三(san)個(ge)箱(xiang)體。(以三(san)箱(xiang)式(shi)為例(li))
 

　　2、恒(heng)溫恒濕箱(xiang)只有(you)測試(shi)箱(xiang)，共壹(yi)個(ge)箱(xiang)體
 

　　三、制冷介質(zhi)的區(qu)別(bie)
 

　　1、高(gao)低溫沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)是(shi)采用(yong)環(huan)保R404和R23制冷劑(ji)當(dang)制冷介質(zhi)。
 

　　2、恒(heng)溫恒濕箱(xiang)以每分(fen)鐘(zhong)10度以(yi)上機型(xing)為(wei)例制冷介質(zhi)是(shi)液(ye)態氮(當然(ran)10度以(yi)下的也有(you)用(yong)制冷劑(ji)的，但不常(chang)見)
 

　　四、用(yong)途(tu)不(bu)同
 

　　1、恒溫恒濕箱(xiang)用(yong)於(yu)檢測材(cai)料(liao)在各種環(huan)境(jing)下性(xing)能(neng)的設(she)備及試(shi)驗各種材(cai)料(liao)耐熱、耐寒(han)、耐幹、耐濕性能(neng)。適(shi)合(he)電(dian)子(zi)、電(dian)器(qi)、通(tong)訊、儀(yi)表(biao)、車輛(liang)、塑膠制品(pin)、金屬、食品(pin)、化(hua)學(xue)、建(jian)材(cai)、醫(yi)療(liao)、航天等(deng)制品(pin)檢測質(zhi)量之(zhi)用(yong)。
 

　　2、高(gao)低溫沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)是(shi)金屬、塑料(liao)、橡(xiang)膠(jiao)、電(dian)子(zi)等(deng)材(cai)料(liao)行(xing)業*的測試(shi)設備，用(yong)於(yu)測試(shi)材(cai)料(liao)結(jie)構或復(fu)合(he)材(cai)料(liao)，在瞬(shun)間下經(jing)*溫及極(ji)低溫的連(lian)續環(huan)境(jing)下所(suo)能忍受(shou)的程(cheng)度，得(de)以在短時(shi)間(jian)內(nei)檢測試(shi)樣因(yin)熱脹(zhang)冷縮(suo)所(suo)引起(qi)的化(hua)學(xue)變(bian)化(hua)或物(wu)理(li)傷害(hai)。
 

　　五(wu)、相關(guan)標準的不(bu)同(tong)
 

　　1、高(gao)低溫沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)符合(he)GB/T2423.1-2008試(shi)驗A、GB/T2423.2-2008試(shi)驗B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方(fang)法107溫度沖(chong)擊(ji)試(shi)驗的要求(qiu)。
 

　　2、恒(heng)溫恒濕箱(xiang)符合(he)GB/T2423.1.2-2001GJB150.5GB10592-89試(shi)驗的要求(qiu)