不(bu)知道(dao)試驗(yan)箱(xiang)究(jiu)竟(jing)有(you)多(duo)好？冷熱(re)沖(chong)擊試驗箱(xiang)品(pin)牌(pai)給(gei)妳(ni)充(chong)分(fen)說明

　　冷熱(re)沖(chong)擊試驗箱(xiang)品(pin)牌(pai)用(yong)於(yu)電(dian)子電(dian)氣(qi)元件(jian)，自動(dong)化(hua)元(yuan)件(jian)，通信(xin)元件(jian)，汽(qi)車(che)零件(jian)，金屬，化(hua)學(xue)材(cai)料(liao)，塑料(liao)等行業，BGA，PCB基(ji)板(ban)，電(dian)子芯片IC，半(ban)導(dao)體陶(tao)瓷和(he)高分(fen)子材料(liao)材料(liao)的(de)物(wu)理(li)變(bian)化(hua)，材(cai)料(liao)，對(dui)高(gao)溫(wen)和(he)低溫(wen)的(de)反(fan)復抵(di)抗力(li)以(yi)及由(you)於(yu)熱(re)膨脹和(he)收縮引起(qi)的(de)化(hua)學(xue)變(bian)化(hua)或(huo)產(chan)品(pin)的(de)物(wu)理(li)損壞，可以(yi)確(que)定(ding)產品(pin)的(de)質量(liang)，從(cong)精密(mi)IC到重型(xing)機(ji)械部件(jian)，沒有(you)人(ren)不(bu)需要(yao)其(qi)理(li)想(xiang)的(de)測(ce)試工具。

　　1、冷熱(re)沖(chong)擊試驗箱(xiang)品(pin)牌(pai)操作(zuo)性能(neng)簡(jian)單方(fang)便(bian)，設備(bei)性能(neng)可靠(kao)；

　　2、設備(bei)分(fen)為三(san)部分(fen)：高溫(wen)箱(xiang)，低溫(wen)箱(xiang)和(he)測試箱(xiang)，具有(you)*的(de)隔(ge)熱(re)結(jie)構(gou)，並(bing)具有(you)儲熱和(he)冷庫(ku)的(de)作(zuo)用(yong)，測(ce)試(shi)對(dui)象(xiang)在測(ce)試過(guo)程中(zhong)是(shi)*靜止的(de)，采(cai)用(yong)冷熱(re)風(feng)路切(qie)換方(fang)式(shi)將冷熱(re)溫(wen)度引(yin)入(ru)測試(shi)區域，以達(da)到(dao)冷熱(re)沖(chong)擊測試的(de)目(mu)的(de)。

　　3、采(cai)用(yong)更先進的(de)測(ce)量裝置(zhi)，控(kong)制(zhi)器采(cai)用(yong)大(da)型(xing)彩色(se)LCD人(ren)機(ji)觸摸對(dui)話(hua)LCD人(ren)機(ji)界(jie)面(mian)控制器，操作(zuo)簡單，易(yi)學(xue)，穩(wen)定(ding)，穩(wen)定(ding)。可靠(kao)，並(bing)以中(zhong)英(ying)文顯(xian)示完(wan)整的(de)系(xi)統(tong)運行條件(jian)，執行和(he)設置(zhi)程(cheng)序曲線(xian)；

　　4、單獨(du)設置(zhi)96種(zhong)測(ce)試規(gui)格，沖(chong)擊時(shi)間(jian)為999小(xiao)時(shi)59分(fen)鐘(zhong)，循環(huan)周(zhou)期(qi)可以(yi)設置(zhi)為(wei)1至(zhi)999次(ci)。它可以(yi)實(shi)現冰(bing)箱(xiang)的(de)自(zi)動(dong)運行，在很(hen)大(da)程度(du)上實現(xian)自(zi)動(dong)化(hua)，並(bing)減(jian)輕操作(zuo)人(ren)員的(de)工作(zuo)量，可以(yi)隨時(shi)自動(dong)啟動(dong)和(he)停(ting)止工作(zuo)；

　　5、箱(xiang)體(ti)左(zuo)側(ce)有(you)壹個直(zhi)徑(jing)為(wei)50mm的(de)測(ce)試孔，可用(yong)於(yu)外(wai)部電(dian)源(yuan)負(fu)載接線測試(shi)組(zu)件(jian)；

　　6、可以(yi)獨(du)立設置(zhi)高(gao)溫(wen)，在三(san)種不(bu)同條件(jian)下具有(you)低溫(wen)和(he)冷熱(re)沖(chong)擊功能(neng)，在進行冷熱(re)沖(chong)擊條件(jian)時(shi)，可以(yi)選(xuan)擇(ze)兩槽或三(san)槽冷沖(chong)和(he)熱沖(chong)影(ying)響(xiang)。具有(you)高(gao)低溫(wen)試驗(yan)機(ji)；

　　7、冷熱(re)沖(chong)擊試驗箱(xiang)品(pin)牌(pai)可以(yi)單獨(du)用(yong)作(zuo)高溫(wen)箱(xiang)或(huo)低溫(wen)箱(xiang)，壹(yi)機(ji)三(san)用(yong)；

　　8，具有(you)全(quan)自(zi)動(dong)，高精(jing)度的(de)系(xi)統(tong)回路(lu)，任何機(ji)械動(dong)作(zuo)，全(quan)PLC鎖(suo)定(ding)處(chu)理(li)，全(quan)部(bu)采(cai)用(yong)PID自(zi)動(dong)計(ji)算(suan)控(kong)制(zhi)，控溫(wen)精度(du)高(gao)；

　　9、先進的(de)科學空氣流(liu)通設計(ji)，室內(nei)溫(wen)度均勻(yun)，*；完(wan)整的(de)安(an)全(quan)保(bao)護(hu)裝(zhuang)置(zhi)可避免(mian)任(ren)何潛在的(de)安(an)全(quan)隱(yin)患(huan)，並(bing)確(que)保(bao)設備(bei)的(de)長(chang)期(qi)可靠(kao)性；

　　10、可以(yi)設置(zhi)循(xun)環(huan)次(ci)數和(he)除霜次(ci)數。自動(dong)（手動(dong)）除霜(shuang)；

　　11、出(chu)風(feng)口(kou)由(you)回(hui)風(feng)口傳感(gan)器(qi)檢(jian)測(ce)和(he)控制，風(feng)門(men)機(ji)構(gou)的(de)切(qie)換時(shi)間(jian)在10秒內(nei)完(wan)成，冷熱(re)沖(chong)擊的(de)溫(wen)度恢(hui)復時(shi)間(jian)在5分(fen)鐘(zhong)內(nei)完(wan)成；

　　12、運(yun)行狀(zhuang)態(tai)顯(xian)示和(he)曲線(xian)顯(xian)示，當(dang)出(chu)現(xian)異(yi)常(chang)情況(kuang)時(shi)，屏幕(mu)將自動(dong)顯(xian)示故(gu)障點(dian)和(he)原因(yin)並(bing)提(ti)供故(gu)障排除(chu)方(fang)法(fa)，如(ru)果(guo)發現輸(shu)入(ru)電(dian)源(yuan)不(bu)穩(wen)定(ding)，則緊急(ji)停(ting)機(ji)設備(bei);

　　13、制(zhi)冷系(xi)統(tong)采用(yong)級(ji)聯(lian)高(gao)效(xiao)低溫(wen)回路(lu)系(xi)統(tong)設計(ji)。制(zhi)冷機(ji)組(zu)采(cai)用(yong)歐(ou)美進口壓縮機(ji)，臭(chou)氧(yang)系(xi)數為零的(de)綠(lv)色(se)環(huan)保(bao)制(zhi)冷劑R507，R23；

　　14、*安(an)全(quan)保(bao)護(hu)功(gong)能(neng)：電(dian)源(yuan)過載(zai)保(bao)護(hu)，漏(lou)電(dian)保(bao)護(hu)，控(kong)制(zhi)回(hui)路(lu)負(fu)載，短路保(bao)護(hu)，壓縮機(ji)保(bao)護(hu)，接(jie)地保(bao)護(hu)，過(guo)熱(re)保(bao)護(hu)，報(bao)警(jing)聲音(yin)提示。