和(he)晟儀器導(dao)熱系數測試儀(yi)在(zai)部(bu)分高校(xiao)研(yan)究(jiu)所(suo)應(ying)用實例(li)

瞬(shun)態(tai)平面(mian)熱源法(fa)熱常數(shu)分析儀(yi)的(de)核心(xin)部件(jian)就(jiu)是(shi)超(chao)薄膜(mo)式(shi)探頭，如(ru)下圖(tu)2-0所示(shi)，探頭的(de)材料(liao)是(shi)由刻(ke)蝕後(hou)的(de)電熱金(jin)屬(shu)鎳(nie)絲，其(qi)結構是(shi)由多(duo)圈(quan)雙螺旋(xuan)構成(cheng)，同(tong)時做為(wei)加(jia)熱和(he)傳(chuan)感(gan)器，如(ru)下圖(tu)2-1所示(shi)。探頭用聚酰(xian)亞胺(an)薄膜(mo)封裝，壹方(fang)面(mian)可以(yi)防(fang)止電熱鎳(nie)絲被(bei)腐蝕，另壹方(fang)面(mian)可以(yi)防(fang)壓(ya)保護(hu)探頭不會變(bian)形。在(zai)實驗時，探頭被緊(jin)密夾在(zai)二塊被測樣(yang)品之間(jian)，測量電路(lu)是(shi)由探頭和(he)標準(zhun)電阻串(chuan)聯，給該電路(lu)提供(gong)恒(heng)定(ding)電壓，使探頭產生(sheng)熱量(liang)，溫(wen)度(du)升高(gao)引(yin)起探頭的(de)電阻變(bian)化(hua)，根據探頭電阻的(de)變化(hua)可(ke)以(yi)精(jing)確求(qiu)出(chu)其(qi)近(jin)表(biao)面(mian)的(de)溫(wen)升曲線(xian)，再依(yi)據溫(wen)升曲線(xian)對傳(chuan)熱模型(xing)進(jin)行擬合(he)，就(jiu)可求(qiu)出材料(liao)的(de)導(dao)熱系數和(he)熱擴(kuo)散系數。探頭的(de)溫(wen)度(du)響(xiang)應(ying)受(shou)被測材料(liao)的(de)熱物性(xing)影(ying)響(xiang)，若被(bei)測材料(liao)的(de)導(dao)熱系數比較(jiao)小(xiao)，隔熱效(xiao)果(guo)好，熱量(liang)不易(yi)被傳(chuan)走(zou)，則探頭的(de)溫(wen)升比較(jiao)高(gao)；探頭與樣(yang)品材料(liao)的(de)熱流傳(chuan)遞(di)情(qing)況如(ru)下圖(tu)2-2所示(shi)。

圖(tu)2-0 超(chao)薄膜(mo)式(shi)探頭