可(ke)編(bian)程(cheng)高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)的(de)使用要(yao)滿(man)足(zu)以(yi)下(xia)條(tiao)件

　　在(zai)可(ke)編(bian)程(cheng)高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)的(de)高(gao)溫(wen)試驗(yan)過程中，如果溫(wen)度變(bian)化(hua)不(bu)能達到(dao)試驗溫(wen)度值，可(ke)以(yi)檢(jian)查電(dian)氣系(xi)統(tong)，逐壹(yi)排(pai)除故(gu)障(zhang)。如果溫(wen)度上(shang)升很慢(man)，則(ze)檢(jian)查空(kong)氣循環系(xi)統(tong)，看空氣循環的(de)調節(jie)風(feng)門(men)是(shi)否(fou)正常打(da)開。否(fou)則(ze)，檢(jian)查空(kong)氣循環的(de)電(dian)機是(shi)否(fou)正常運(yun)行(xing)。如果溫(wen)度超(chao)調嚴(yan)重，需(xu)要(yao)調整(zheng)PID設置參數(shu)。在(zai)溫(wen)度直(zhi)接(jie)上(shang)升和(he)超(chao)溫(wen)保護(hu)的(de)情(qing)況下(xia)，控(kong)制器(qi)失(shi)效(xiao)，必(bi)須(xu)更換控(kong)制儀(yi)表。

　　

　　如果可(ke)編(bian)程(cheng)高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)的(de)低溫(wen)達不到(dao)測試指標(biao)，應觀(guan)察(cha)溫(wen)度變(bian)化(hua)是(shi)否(fou)緩(huan)慢，或者溫(wen)度達到(dao)壹(yi)定值後(hou)是(shi)否(fou)有(you)上(shang)升趨勢(shi)。前(qian)者(zhe)應(ying)檢(jian)查工(gong)作室(shi)在(zai)低溫(wen)試驗(yan)前(qian)是(shi)否(fou)已幹燥(zao)。工(gong)作室(shi)保(bao)持(chi)幹燥(zao)後(hou)，將(jiang)試驗(yan)樣(yang)品放(fang)入(ru)工作室(shi)進(jin)行(xing)試(shi)驗(yan)。工(gong)作室(shi)中(zhong)的試樣(yang)是(shi)否(fou)放置過多，使(shi)工(gong)作室(shi)中(zhong)的風(feng)不(bu)能充(chong)分(fen)流(liu)通(tong)，上(shang)述原(yuan)因排(pai)除後(hou)，要(yao)考(kao)慮(lv)是(shi)否(fou)是(shi)制冷(leng)系(xi)統(tong)的故障(zhang)，所(suo)以(yi)要(yao)請(qing)廠(chang)家(jia)的(de)專業人員進(jin)行(xing)維(wei)修。後(hou)壹(yi)種現象(xiang)是(shi)由於(yu)設備(bei)的(de)使用環境不好(hao)造成(cheng)的。設備(bei)的(de)環境溫(wen)度和(he)放(fang)置位置（箱(xiang)體(ti)背面與(yu)墻壁(bi)的(de)距(ju)離）應符(fu)合(he)要(yao)求(qiu)（設備(bei)使(shi)用說明(ming)書(shu)中(zhong)規(gui)定）。

　　
 

　　可(ke)編(bian)程(cheng)高(gao)低溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)的(de)試驗應(ying)滿(man)足(zu)以(yi)下(xia)條(tiao)件。

　　

　　1、妳(ni)所(suo)需(xu)要(yao)的(de)試(shi)驗(yan)溫(wen)度範圍(wei)（在購(gou)買試(shi)驗(yan)箱(xiang)時(shi)，很多人(ren)的(de)溫(wen)度範圍(wei)應該比(bi)試(shi)驗所(suo)需(xu)的溫(wen)度範圍(wei)大(da)壹(yi)些(xie)，保留(liu)壹(yi)點(dian)供以(yi)後(hou)使(shi)用）。

　　

　　2、測試(shi)樣(yang)品的(de)重量是(shi)多少，應(ying)該放(fang)幾(ji)層(ceng)。

　　

　　3、工(gong)作室(shi)的(de)大(da)小(xiao)（在標(biao)準(zhun)中(zhong)，最(zui)好(hao)是(shi)比妳(ni)要(yao)測(ce)試(shi)的(de)東西(xi)大(da)3/1）。

　　

　　4、控(kong)制器(qi)的(de)配置是(shi)否(fou)需(xu)要(yao)編(bian)程(cheng)儀(yi)器或普通儀(yi)器。

　　

　　5、在測(ce)試(shi)方面(mian)，妳(ni)可(ke)以(yi)要(yao)求(qiu)在制(zhi)造商所(suo)在(zai)的(de)當地(di)或國家(jia)認(ren)可(ke)的(de)質量測(ce)試(shi)機構進行(xing)測(ce)試(shi)和(he)測(ce)量(liang)。

　　

　　6、設備(bei)的(de)高(gao)溫(wen)上(shang)限(xian)壹(yi)般(ban)為(wei)150℃。如果測(ce)試(shi)溫(wen)度低(di)於(yu)它，可(ke)以(yi)使(shi)用。否(fou)則(ze)，不能更(geng)換。