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高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱:主(zhu)要(yao)功(gong)能(neng)及(ji)工作(zuo)原(yuan)理(li)
更新時(shi)間:2023-08-02
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高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱是(shi)壹(yi)種(zhong)常見的(de)環境試(shi)驗設備(bei),主(zhu)要(yao)用(yong)於模(mo)擬(ni)高(gao)溫(wen)和低(di)溫(wen)環境,以測(ce)試(shi)產品在不(bu)同溫(wen)度(du)條(tiao)件(jian)下的(de)性(xing)能(neng)表(biao)現。這種(zhong)設備(bei)在(zai)科(ke)研、工業、軍事(shi)、航空(kong)等領域(yu)都(dou)被廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong),對於產(chan)品的質量保證和性(xing)能(neng)提(ti)升(sheng)具有重要作(zuo)用(yong)。

高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱的(de)主(zhu)要(yao)功(gong)能(neng)是(shi)在模擬的(de)高(gao)溫(wen)、低(di)溫(wen)、濕(shi)度等環境下(xia)對(dui)產品進行(xing)測(ce)試(shi),以評(ping)估(gu)其在不(bu)同溫(wen)度(du)條(tiao)件(jian)下的(de)性(xing)能(neng)表(biao)現和穩(wen)定(ding)性(xing)。設備(bei)由箱體、控(kong)制(zhi)系統(tong)、傳感器等主(zhu)要(yao)部(bu)分(fen)組(zu)成(cheng)。其(qi)中,箱體是用(yong)來創(chuang)造(zao)所(suo)需(xu)環境條(tiao)件(jian)的容(rong)器(qi),控(kong)制(zhi)系統(tong)負(fu)責控(kong)制(zhi)和監測(ce)環境的(de)各(ge)項指(zhi)標,傳感器則用(yong)來實(shi)時(shi)監測(ce)環境溫(wen)度(du)、濕(shi)度等參數(shu)。
高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱的(de)工作(zuo)原(yuan)理(li)主(zhu)要(yao)是(shi)通(tong)過(guo)制(zhi)冷或制(zhi)熱(re)循環來控(kong)制(zhi)設備(bei)內(nei)的(de)溫(wen)度(du)。在制(zhi)冷循環中,通過壓縮、冷凝、膨(peng)脹(zhang)、蒸(zheng)發(fa)四(si)個(ge)過(guo)程來實(shi)現(xian)降溫(wen);在(zai)制(zhi)熱(re)循環中,通過逆(ni)向(xiang)操(cao)作(zuo)四(si)個(ge)過(guo)程來實(shi)現(xian)加(jia)熱(re)。同時(shi),設備(bei)還(hai)采(cai)用(yong)了溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)系統(tong)來保持試(shi)驗溫(wen)度(du)的穩定(ding)性(xing)和準(zhun)確性(xing)。
使(shi)用(yong)高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱時(shi),需(xu)要根(gen)據(ju)測(ce)試(shi)產品的特性(xing)和測(ce)試(shi)要求(qiu)進(jin)行(xing)設置(zhi)。壹(yi)般(ban)來說(shuo),首先(xian)要(yao)選(xuan)擇測(ce)試(shi)溫(wen)度(du)範(fan)圍,然(ran)後(hou)選(xuan)擇相(xiang)應(ying)的溫(wen)度(du)模式(如恒溫(wen)、程(cheng)序(xu)等),接(jie)著(zhe)設置(zhi)濕(shi)度等其他(ta)環境參(can)數(shu)。在測(ce)試(shi)過程中,設備(bei)會根據(ju)設定(ding)的模(mo)式和程(cheng)序(xu)自(zi)動控(kong)制(zhi)溫(wen)度(du)和濕(shi)度等參數(shu),同時(shi)記(ji)錄(lu)測(ce)試(shi)數(shu)據(ju),以便(bian)後(hou)續分(fen)析和評(ping)估(gu)。
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