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半導體(ti)制(zhi)冷(leng)差(cha)示(shi)掃描量(liang)熱(re)儀(yi):熱(re)分(fen)析的得力助手
更(geng)新時間(jian):2025-03-31
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在(zai)材(cai)料科學(xue)、化(hua)學(xue)、生(sheng)物(wu)學(xue)和(he)藥物(wu)學(xue)等眾多(duo)領域,深入(ru)探究(jiu)物(wu)質(zhi)的熱(re)力(li)學(xue)和(he)動(dong)力(li)學(xue)性質至(zhi)關(guan)重(zhong)要。半導體(ti)制(zhi)冷(leng)差(cha)示(shi)掃描量(liang)熱(re)儀(yi)(DSC)作(zuo)為壹款(kuan)關(guan)鍵的分(fen)析儀(yi)器,在(zai)這壹過(guo)程(cheng)中發揮著不可替代的作(zuo)用(yong)。

差(cha)示掃描量(liang)熱(re)儀(yi)的工作(zuo)原理基(ji)於差示掃描量(liang)熱(re)法(fa)。在(zai)程(cheng)序控制溫度(du)的條(tiao)件(jian)下(xia),儀(yi)器會精(jing)準測(ce)量(liang)輸(shu)入(ru)到試(shi)樣和(he)參(can)比物(wu)的功(gong)率(lv)差與(yu)溫度(du)的關(guan)系(xi)。它記(ji)錄下(xia)樣(yang)品(pin)吸熱(re)或(huo)放熱(re)的速率(lv),也(ye)就(jiu)是(shi)熱(re)流(liu)率(lv),並(bing)以(yi)熱(re)流(liu)率(lv)為縱(zong)坐(zuo)標(biao),以(yi)溫(wen)度(du)或(huo)時間(jian)為(wei)橫(heng)坐(zuo)標(biao),生(sheng)成 DSC 曲線。科研(yan)人員通過(guo)對這條曲線進行(xing)細致分(fen)析,能(neng)夠測(ce)定(ding)多(duo)種(zhong)熱(re)力(li)學(xue)和(he)動(dong)力(li)學(xue)參(can)數,例(li)如比(bi)熱(re)容、反應(ying)熱(re)、轉(zhuan)變(bian)熱(re)、相(xiang)圖、反應(ying)速率(lv)、結晶(jing)速率(lv)、高(gao)聚(ju)物(wu)結晶(jing)度(du)以(yi)及樣品(pin)純(chun)度(du)等。
半導體(ti)制(zhi)冷(leng)技術(shu)的運(yun)用(yong),為DSC帶來(lai)了優(you)勢(shi)。相較於傳統制(zhi)冷(leng)方(fang)式(shi),半導體(ti)制(zhi)冷(leng)具(ju)有(you)降(jiang)溫速度(du)快(kuai)的特點(dian),能(neng)迅(xun)速達到所需(xu)低溫環境,極(ji)大(da)提高(gao)實(shi)驗效率(lv)。而且(qie),它(ta)可實現多(duo)段溫(wen)度(du)設(she)置(zhi),控溫精(jing)度(du)高(gao),能(neng)為實驗提(ti)供(gong)穩(wen)定、精(jing)準的溫(wen)度(du)條(tiao)件,確保(bao)實驗結果的準確(que)性與(yu)可靠性。
半導體(ti)制(zhi)冷(leng)差(cha)示(shi)掃描量(liang)熱(re)儀(yi)的應(ying)用(yong)範(fan)圍(wei)極(ji)為廣泛。在(zai)高(gao)分(fen)子(zi)材(cai)料領域,可用(yong)於研(yan)究(jiu)其(qi)固化(hua)反應(ying)溫度(du)和(he)熱(re)效應(ying)、結晶(jing)與(yu)熔融(rong)溫度(du)及(ji)其熱(re)效應(ying),以及(ji)玻(bo)璃化(hua)轉(zhuan)變(bian)溫度(du)等;在(zai)藥物(wu)研(yan)發(fa)中(zhong),能(neng)助力分(fen)析藥物(wu)的多(duo)晶(jing)型現象,了解藥物(wu)在(zai)不同溫度(du)下(xia)的狀(zhuang)態變(bian)化(hua),為(wei)藥物(wu)的質(zhi)量(liang)控制和(he)穩(wen)定性研究(jiu)提(ti)供(gong)關(guan)鍵數據(ju);在(zai)食(shi)品(pin)工業(ye),可(ke)用(yong)於分(fen)析油脂(zhi)等食(shi)品(pin)的固(gu) / 液相(xiang)比(bi)例(li),監測(ce)食(shi)品(pin)在(zai)加工和(he)儲(chu)存過(guo)程(cheng)中的熱(re)變(bian)化(hua),保(bao)障食(shi)品(pin)品(pin)質。
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