和晟(sheng)儀器(qi)為(wei)您(nin)提(ti)供(gong)河北(bei)冷熱(re)沖擊試(shi)驗箱(xiang)的廠家(jia)、價(jia)格(ge)、型號、品牌(pai)、報(bao)價等(deng)參數(shu)信(xin)息(xi)，公(gong)司擁(yong)有專(zhuan)業的服務(wu)團(tuan)隊,為(wei)您(nin)提(ti)供(gong)*的技術(shu)支(zhi)持(chi),是(shi)您(nin)值(zhi)得(de)信(xin)賴(lai)的合作(zuo)夥(huo)伴(ban)。

高低溫循(xun)環(huan)沖擊試(shi)驗箱(xiang)是(shi)金(jin)屬(shu)、塑(su)料、橡(xiang)膠(jiao)、電子(zi)等(deng)材料行業*的測(ce)試(shi)設備(bei)，用(yong)於(yu)測(ce)試(shi)材料結(jie)構或復合材料，在瞬(shun)間(jian)下經(jing)*溫及(ji)極低溫的連續(xu)環(huan)境(jing)下(xia)忍(ren)受(shou)的程度(du)，得(de)以(yi)在短(duan)時(shi)間(jian)內(nei)檢(jian)測(ce)試(shi)樣因熱(re)脹(zhang)冷縮所引(yin)起(qi)的化學變(bian)化或物(wu)理傷害。冷熱(re)沖擊試(shi)驗箱(xiang)滿(man)足的試(shi)驗方(fang)法：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試(shi)驗。

用(yong)途(tu)概述(shu)

高(gao)低(di)溫循(xun)環(huan)沖擊試(shi)驗箱(xiang)系列產品(pin)機械結(jie)構：

1.內(nei)箱(xiang)材質(zhi)采(cai)用(yong)SUS#304不(bu)銹(xiu)鋼板(ban)，外(wai)箱(xiang)材質(zhi)采(cai)用(yong)SEEC鋼(gang)板(ban)外(wai)加粉底(di)烤(kao)漆(qi)，增(zeng)加外(wai)觀(guan)質(zhi)感(gan)及(ji)潔(jie)凈度，造(zao)型美觀大(da)方(fang)。

2.箱(xiang)體(ti)保(bao)溫層采(cai)用(yong)高(gao)強(qiang)度PU及(ji)保(bao)溫棉(mian)，達(da)到優良(liang)的保溫效(xiao)果。

3.箱(xiang)體(ti)配(pei)備(bei)直(zhi)徑(jing)50mm的測(ce)試(shi)孔(kong)，可供外(wai)接測(ce)試(shi)電源(yuan)線(xian)或信(xin)號線使用(yong)，也(ye)可以(yi)依(yi)客(ke)戶(hu)要(yao)求制作(zuo)。

4.機(ji)器(qi)底(di)部采(cai)用(yong)高(gao)品(pin)質(zhi)可固(gu)定式(shi)PU活動絞輪，方(fang)便移動。

5.采(cai)用(yong)彩(cai)屏(ping)美國(guo)WINCONTROL、日本UNIQUE、OYO系列觸(chu)摸(mo)屏(ping)控(kong)制器(qi)，熒幕(mu)操作(zuo)簡(jian)單，程式(shi)編輯容(rong)易，適用(yong)各(ge)種溫濕(shi)度交(jiao)變(bian)試(shi)驗條(tiao)件，具(ju)有RS-232通(tong)訊(xun)界面(mian)及(ji)連(lian)線(xian)軟體(ti)，可於(yu)電(dian)腦上(shang)執行各種功能(neng)。

6.具(ju)有RS-232通(tong)訊(xun)界面(mian)及(ji)連(lian)線(xian)軟體(ti)，可於(yu)電(dian)腦上(shang)設(she)計程式(shi)、收(shou)集(ji)測(ce)試(shi)資(zi)料與(yu)記錄、呼(hu)叫(jiao)程式(shi)執行等(deng)各種功能(neng)。

7.可獨立設定高溫、低(di)溫及(ji)冷(leng)熱(re)沖擊三種不同(tong)條件(jian)，具(ju)備高(gao)低(di)溫試(shi)驗機(ji)的功能(neng)。

8.可在預(yu)約(yue)開(kai)機(ji)時(shi)間(jian)控(kong)制中(zhong)自(zi)動提(ti)前(qian)預(yu)熱(re)、預(yu)冷(leng)待(dai)機(ji)，並(bing)可選(xuan)擇起(qi)始(shi)位(wei)置(zhi)，由(you)高(gao)溫或低(di)溫開(kai)始(shi)循(xun)環(huan)或沖擊，另具(ju)備設(she)定(ding)循(xun)環(huan)次(ci)數及(ji)自(zi)動除(chu)霜等(deng)功能(neng)。

9.具(ju)備全(quan)自(zi)動、高精密系統回路(lu)，任(ren)壹機(ji)件動作(zuo)，*由(you)P.L.C鎖(suo)定處理，溫度(du)控(kong)制精(jing)度高，全(quan)部采(cai)用(yong)P.I.D自(zi)動演算(suan)控(kong)制。

10.出(chu)風(feng)口(kou)與(yu)回風(feng)口(kou)感(gan)知器檢(jian)知控(kong)制，風(feng)向柵門機構切(qie)換時(shi)間(jian)為(wei)10秒(miao)內(nei)完(wan)成，冷(leng)熱(re)沖擊溫度(du)恢(hui)復時(shi)間(jian)為(wei)5分鐘(zhong)內(nei)完(wan)成。

11.運(yun)轉中(zhong)發(fa)生異常狀(zhuang)況(kuang)，熒(ying)幕(mu)上(shang)即(ji)刻自(zi)動顯示故障(zhang)原(yuan)因(yin)及(ji)提(ti)供(gong)排除(chu)故障(zhang)的方(fang)法，並(bing)於(yu)發(fa)現(xian)輸(shu)入(ru)電力(li)不(bu)穩(wen)定(ding)時(shi)，有緊急停(ting)機功能(neng)。

12.高(gao)品(pin)質(zhi)的YOKOGAWA溫度(du)記錄儀，同(tong)時(shi)記錄原始(shi)溫度(du)訊(xun)號。

13.冷(leng)凍系統采(cai)用(yong)歐(ou)美(mei)*壓縮機，並(bing)使用(yong)環(huan)保(bao)冷(leng)媒(mei)。采(cai)用(yong)二元復疊(die)制冷(leng)，以(yi)增(zeng)加設備使用(yong)壽(shou)命(ming)。

14.采(cai)用(yong)多翼(yi)式循(xun)環(huan)風(feng)扇(shan)，避免任(ren)何死角(jiao)，可使測(ce)試(shi)區(qu)內(nei)溫度(du)分(fen)布(bu)均勻(yun)。

15.具(ju)有超(chao)溫保(bao)護(hu)，漏電(dian)保護(hu)，風機(ji)過(guo)載(zai)保護(hu)，壓縮機超(chao)壓、過(guo)載(zai)、過(guo)電(dian)流(liu)保護(hu)，相(xiang)序(xu)保(bao)護(hu)等(deng)安(an)全(quan)裝置(zhi)，盡(jin)可能的保證設(she)備使用(yong)安(an)全(quan)。

16.可程式(shi)控(kong)制器(qi)：控(kong)制器(qi)采(cai)用(yong)進(jin)口(kou)觸(chu)摸(mo)式(shi)真(zhen)彩(cai)液(ye)晶(jing)微電(dian)腦控(kong)制器(qi),美觀、漂(piao)亮(liang)。

17.產品(pin)采(cai)用(yong)電(dian)阻(zu)式高精(jing)度(du)觸(chu)摸(mo)屏(ping)操作(zuo)方(fang)式(shi)，可直(zhi)接使用(yong)USB鼠(shu)標或觸(chu)摸(mo)筆(bi)點(dian)擊(ji)屏(ping)幕(mu)進(jin)行功能(neng)選(xuan)擇或者(zhe)參(can)數(shu)設(she)置。

冷(leng)熱(re)沖擊試(shi)驗箱(xiang)系列產品(pin)用(yong)途(tu):

本系列產品(pin)廣泛(fan)應用(yong)於(yu)電(dian)子(zi)、汽(qi)車(che)配(pei)件(jian)、塑(su)膠(jiao)等(deng)行業，測(ce)試(shi)各種材料對(dui)高、低(di)溫的反復抵(di)拉(la)力(li)，試(shi)驗出(chu)產品(pin)於(yu)熱(re)脹(zhang)冷縮所產生的化學變(bian)化或物(wu)理傷害，可確(que)認(ren)產品(pin)的品質(zhi)，從精(jing)密的IC到重(zhong)機械(xie)的組件(jian)，無(wu)壹(yi)不(bu)需(xu)要(yao)它的認同(tong)。

符(fu)合標準(zhun)
1、GB/T2423.1-2001低溫試(shi)驗方(fang)法；
2、GB/T2423.2-2001；
3、GB/T2423.22-1989溫度(du)變(bian)化試(shi)驗N；
4. 標GJB150.3-86；
5. 標GJB150.4-86；
6. 標GJB150.5-86；
7、GJB150.5-86溫度(du)沖擊試(shi)驗；
8、GJB360.7-87溫度(du)沖擊試(shi)驗；
9、GJB367.2-87 405溫度(du)沖擊試(shi)驗；
10、SJ/T10187-91Y73系列溫度(du)變(bian)化試(shi)驗箱(xiang)；
11、SJ/T10186-91Y73系列溫度(du)變(bian)化試(shi)驗箱(xiang)；
12、滿(man)足標準(zhun)IEC68-2-14_試(shi)驗方(fang)法N_溫度(du)變(bian)化；
10、GB/T 2424.13-2002試(shi)驗方(fang)法溫度(du)變(bian)化試(shi)驗導則；
11、GB/T 2423.22-2002溫度(du)變(bian)化；
12、QC/T17-92汽(qi)車(che)零(ling)部件(jian)耐候(hou)性(xing)試(shi)驗壹(yi)般規(gui)則；
13、EIA 364-32熱(re)沖擊（溫度(du)循(xun)環(huan)）測(ce)試(shi)程序(xu)的電連(lian)接器和插座(zuo)的環(huan)境(jing)影(ying)響(xiang)評(ping)估。

技術(shu)參(can)數(shu)