差(cha)熱分(fen)析(xi)儀(yi)廠(chang)家是(shi)在程序控制溫度(du)下(xia)，測(ce)量物(wu)質(zhi)與參比物(wu)之(zhi)間的溫度(du)差(cha)與(yu)溫度(du)關系(xi)的(de)壹(yi)種技術。差熱分(fen)析(xi)曲(qu)線(xian)是描(miao)述樣品(pin)與(yu)參比物(wu)之(zhi)間的溫度(du)（△T）隨(sui)溫(wen)度或(huo)時間的(de)變化關(guan)系(xi)。在(zai)DTA試(shi)驗中，樣品(pin)溫(wen)度的(de)變(bian)化是(shi)由(you)於相(xiang)轉變(bian)或(huo)反(fan)應(ying)的吸熱(re)或(huo)放(fang)熱效應(ying)引起的(de)。如：相(xiang)轉變(bian)，熔(rong)化，結(jie)晶結(jie)構的轉(zhuan)變，沸(fei)騰(teng)，升華(hua)，蒸(zheng)發(fa)，脫(tuo)氫反(fan)應(ying)，斷裂或(huo)分(fen)解(jie)反應(ying)，氧化或(huo)還(hai)原(yuan)反(fan)應(ying)，晶格結(jie)構的破壞(huai)和其他化學(xue)反應(ying)。

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高溫(wen)差(cha)熱分(fen)析(xi)儀(yi)DTA是在(zai)程序控制溫度(du)下(xia)，測(ce)量物(wu)質(zhi)與參比物(wu)之(zhi)間的溫度(du)差(cha)與(yu)溫度(du)關系(xi)的(de)壹(yi)種技術。差熱分(fen)析(xi)曲(qu)線(xian)是描(miao)述樣品(pin)與(yu)參比物(wu)之(zhi)間的溫度(du)（△T）隨(sui)溫(wen)度或(huo)時間的(de)變化關(guan)系(xi)。在(zai)DTA試(shi)驗中，樣品(pin)溫(wen)度的(de)變(bian)化是(shi)由(you)於相(xiang)轉變(bian)或(huo)反(fan)應(ying)的吸熱(re)或(huo)放(fang)熱效應(ying)引起的(de)。如：相(xiang)轉變(bian)，熔(rong)化，結(jie)晶結(jie)構的轉(zhuan)變，沸(fei)騰(teng)，升華(hua)，蒸(zheng)發(fa)，脫(tuo)氫反(fan)應(ying)，斷裂或(huo)分(fen)解(jie)反應(ying)，氧化或(huo)還(hai)原(yuan)反(fan)應(ying)，晶格結(jie)構的破壞(huai)和其他化學(xue)反應(ying)。

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